2009년 11월 12일
진성반도체
진성반도체란, 불순물을 첨가하지 않은 순수한 반도체를 이른다. 영어명(intrinsic semiconductor)에서 따와 i형 반도체라 불리는 경우도 있다.
특징
캐리어밀도
도핑되어있는 경우에는, 도팬트의 밀도로 결정되는 캐리어밀도도, 진성반도체의 경우, 불순물밀도가 아닌, 그것의 재질로 캐리어밀도가 결정된다. 이 캐리어밀도를 진성캐리어밀도(ni)라고 한다. 이 진성캐리어밀도는 상당히 낮은 수치(~1010/cm3)다. 이것은, 보통 도핑으로 얻을 수 있는 캐리어밀도보다 약 10승에 가까운 수치로, 반도체를 사용하는 경우 도핑된 경우가 많다.
진성반도체의 홀밀도 p와 전자밀도 n은,
의 관계가 성립한다(NC는 전도대의 전자밀도, NV는 가전자대의 홀밀도다).
페르미준위
도핑되어있는 경우, 페르미준위는, 그 도너준위나 액셉터준위 근방에 존재하지만, 진성반도체는, 금제대의 밴드 거의 중앙에 위치한다. 전도대 에너지를 EC, 가전자대 에너지를 EV, 전자와 홀의 유효질량을 me, mh로 하는 경우, 진성반도체의 페르미준위 에너지 Ei는
의 형태로 표기된다.
캐리어이동도
진성반도체에는, 불순물이 도핑 되어있어서, 캐리어는 이온화 불순물산란의 영향을 받지 않는다. 그 결과, 도핑되어 있을 때와 비교하여, 상당히 높은 이동도를 나타낸다. 전에 적은 것과 같이 진성반도체에서는 캐리어밀도가 상당히 낮아서, 이것을 이용할 용도는 한정된다. 헤테로구조에 의한 이차원전자가스를 이용한 반도체소자(예를 들면, HEMT;고전자이동도트랜지스터)와 같은 용도가 있다.
도핑
진성반도체는 캐리어밀도가 낮아서, 일반적으로는 진성반도체에 불순물을 도핑한 불순물반도체(외인성반도체)가 사용된다. 이 불순물반도체에는, 도너 또는 액셉터의 열여기에 의한 캐리어가 전도에 기여한다. 이것은, 캐리어가 홀(정공)인 P형 반도체, 캐리어가 전자인 N형 반도체로 구분된다. 캐리어의 종류는, 불순물원소의 최외각전자의 수에 의존하는 경우가 많고, 최외각전자가 4보다 클 때는 N형 반도체, 최외각전자가 4보다 작을 경우에는 P형 반도체가 되는 경우가 많다. 실리콘의 경우, 인, 비소를 도핑한 경우 N형 반도체로, 붕소를 도핑한 경우 P형 반도체가 된다.
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# by | 2009/11/12 00:24 | 일본위키번역 | 트랙백 | 덧글(0)




